電子(zi)元(yuan)器件(jian)使用過程(cheng)中的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗

電(dian)子(zi)元(yuan)器件(jian)使用過程(cheng)中的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗
Reliability Experiment about Applied Process of Electronic Component
李(li)樹(shu)生(sheng)1 ，王　東(dong)2
(1.中國(guo)電子(zi)科(ke)技(ji)集團(tuan)公司第(di)41 研究(jiu)所(suo),青島 266555;2.將(jiang)軍(jun)**集團(tuan)有限(xian)公(gong)司濟南(nan)**廠技(ji)術(shu)設備(bei)處,濟南(nan) 250100)

摘(zhai)　要(yao): 本(ben)文(wen)介紹(shao)了(le)影(ying)響電子(zi)元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)的因素和(he)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗的原(yuan)理，主要(yao)闡(chan)述(shu)在電(dian)子產(chan)品生產過(guo)程(cheng)中，為(wei)確保(bao)產(chan)品的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)，如(ru)何(he)對(dui)電(dian)子(zi)元(yuan)器件(jian)進行可(ke)靠(kao)性(xing)試驗。
關鍵詞: 電(dian)子元(yuan)器件(jian)；可(ke)靠(kao)性(xing)試驗；使用過程(cheng)
中圖(tu)分(fen)類號(hao): TN306 文(wen)獻(xian)標(biao)識(shi)碼：A 文(wen)章(zhang)編(bian)號(hao)：1003-0107(2005)11-0033-03
Abstract: This paper simply introduces influencing factors about reliability of electronic component and princ iple of r eliabil ity exper iment,mainly elabor ates how to carr y out r eliabi lit y exper iment about applied process of electronic component, in order to ensure reliability of electronic product.
Key words: Electronic component;Reliabilit y experiment;Applied process
CLC number:TN306 Document code: A Ar ticle ID:1003-0107(2005)11-0033-03

壹(yi)．引言
在二(er)十(shi)壹(yi)世紀的(de)今(jin)天，電(dian)子產品(pin)可(ke)謂(wei)無處不(bu)在(zai)。大到(dao)壹(yi)個國(guo)家(jia)的(de)工(gong)業(ye)、農(nong)業(ye)、國(guo)防(fang)、科(ke)研，小(xiao)到(dao)我們(men)日(ri)常(chang)生(sheng)活(huo)的(de)每(mei)**都離不(bu)開(kai)電子(zi)產品。從(cong)使用者角(jiao)度(du)看(kan)，電(dian)子產品(pin)在(zai)基本(ben)性(xing)能指(zhi)標(biao)滿足使用要(yao)求(qiu)的(de)前提下(xia)，*重要(yao)的(de)指(zhi)標(biao)是(shi)可(ke)靠(kao)性(xing)，所謂(wei)可(ke)靠(kao)性(xing)是(shi)指(zhi)電(dian)子(zi)產品在規定(ding)條件(jian)下(xia)和(he)規定(ding)時(shi)間(jian)內完成(cheng)規定(ding)功(gong)能的(de)能力，隨(sui)著電子(zi)產品的(de)功(gong)能越(yue)來(lai)越(yue)多(duo), 程度(du)越(yue)來(lai)越(yue)復(fu)雜，使用條件(jian)越(yue)來(lai)越(yue)惡劣(lie)，對(dui)電(dian)子產品的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)要(yao)求(qiu)也(ye)就(jiu)越(yue)來(lai)越(yue)高(gao)。
電子(zi)產品是(shi)由(you)電(dian)子(zi)元(yuan)器件(jian)( 以下(xia)簡(jian)稱元(yuan)器件(jian)) 經(jing)壹(yi)定(ding)的(de)電氣(qi)連接和(he)機械連(lian)接(jie)構(gou)成(cheng)的，所以(yi)元(yuan)器件(jian)是(shi)完成(cheng)電子產(chan)品(pin)功(gong)能的(de)基(ji)本(ben)單(dan)元(yuan)，壹(yi)臺(tai)電子產品的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)在相(xiang)當大的程度(du)上(shang)取決於(yu)元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)性(xing)，也就(jiu)是(shi)說元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)的好(hao)壞(huai)直(zhi)接(jie)影(ying)響著電子(zi)產品的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)，直接(jie)關系到(dao)電子(zi)產品(pin)的使用性(xing)能，關(guan)系(xi)到(dao)國(guo)計(ji)民生(sheng)。可(ke)見(jian)，元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)性(xing)是(shi)十(shi)分(fen)重要(yao)的(de)，而(er)保證和(he)提高(gao)元(yuan)器件(jian)可(ke)
靠(kao)性(xing)水(shui)平的(de)重要(yao)手段(duan)是(shi)開(kai)展元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)性(xing)試驗。

 元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)性(xing)試驗種(zhong)類很(hen)多(duo)，在元(yuan)器件(jian)使用過程(cheng)中，如(ru)何(he)選(xuan)擇(ze)恰當(dang)的可(ke)靠(kao)性(xing)試驗來(lai)保證元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)性(xing)水(shui)平，是(shi)每(mei)個(ge)電(dian)子產品生產(chan)廠(chang)家(jia)要(yao)面(mian)對(dui)的壹(yi)個重要(yao)的(de)問題(ti)。
 
 二(er)．元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗的原(yuan)理 1．影(ying)響元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)的因素影(ying)響元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)的因素很(hen)多(duo)，總的(de)來(lai)說分(fen)為(wei)內(nei)因和(he)外(wai)因。引起元(yuan)器件(jian)失效的內因壹(yi)般由設(she)計(ji)缺陷，制造(zao)工(gong)藝**或(huo)生產(chan)過程中的(de)其他(ta)因素而(er)引(yin)起的(de)元(yuan)器件(jian)自身(shen)的(de)缺(que)陷。比如(ru): 芯片(pian)鍵合點(dian)缺(que)陷、鍵合工(gong)藝缺(que)陷、芯(xin)片(pian)沾汙、芯(xin)片(pian)金屬(shu)化條腐(fu)蝕(shi)和(he)缺損、電阻器金屬(shu)引線(xian)損傷(shang)或(huo)端頭(tou)塗層(ceng)裂紋(wen)等(deng);
 引(yin)起元(yuan)器件(jian)失效的外(wai)因就(jiu)是(shi)存儲、運輸和(he)工作過程中的(de)氣(qi)候環境(jing)條件(jian)、機械環(huan)境(jing)條件(jian)、生物條件(jian)、化學條件(jian)、電與(yu)電磁(ci)條件(jian)、輻(fu)射(she)條件(jian)、系統(tong)連接條件(jian)和(he)人的因素等(deng)，如(ru)低溫(wen)環境(jing)下(xia)，石(shi)英(ying)晶(jing)體器件(jian)不振(zhen)蕩(dang)就(jiu)是(shi)因其材料(liao)變(bian)脆和(he)收(shou)縮(suo)而造成(cheng)。不同(tong)的(de)環(huan)境(jing)條件(jian)及各(ge)種(zhong)不(bu)同(tong)環(huan)境(jing)條件(jian)的惡劣(lie)程(cheng)度(du)對(dui)元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)性(xing)影(ying)響是(shi)不(bu)壹(yi)樣的。那(na)些(xie)來(lai)自設(she)計(ji)、制造(zao)等(deng)因素所(suo)造(zao)成(cheng)元(yuan)器件(jian)的固(gu)有缺(que)陷，在(zai)壹(yi)定(ding)的(de)外(wai)因作用下(xia)就(jiu)導(dao)致(zhi)元(yuan)器件(jian)的失(shi)效，乃至整(zheng)個(ge)電子產(chan)品出(chu)現(xian)故障。
 
 圖(tu)1 元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗原理(li)框圖(tu)
 2.可(ke)靠(kao)性(xing)試驗的原(yuan)理可(ke)靠(kao)性(xing)試驗就(jiu)是(shi)為(wei)評價(jia)分(fen)析(xi)產(chan)品(pin)的可(ke)靠(kao)性(xing)而進(jin)行的試驗，其試驗的原(yuan)理即模(mo)擬(ni)現場(chang)工作(zuo)條件(jian)和(he)環境條件(jian)，將各(ge)種(zhong)工(gong)作(zuo)模(mo)式及環境應力按(an)照(zhao)壹(yi)定(ding)的(de)時(shi)間(jian)比例(li)，按(an)壹(yi)定(ding)的(de)循環次序反復施加(jia)到(dao)受(shou)試產品上(shang)，經(jing)過失(shi)效的分(fen)析(xi)與(yu)處理(li)，將(jiang)得到(dao)的信息反饋(kui)到(dao)設計(ji)、制造(zao)、材料(liao)和(he)管理等部門進行改(gai)進，以(yi)提(ti)高(gao)產品(pin)的固有可(ke)靠(kao)性(xing)。同(tong)時(shi)通過(guo)試驗的結(jie)果對(dui)產(chan)品(pin)的可(ke)靠(kao)性(xing)做出(chu)評定(ding)，為(wei)電(dian)子產品設(she)計(ji)者提供(gong)設計(ji)的可(ke)靠(kao)性(xing)依據(ju)。可(ke)靠(kao)性(xing)試驗要(yao)達(da)到(dao)預期的效果，要(yao)特(te)別重視(shi)試驗條件(jian)的選(xuan)擇(ze)、試驗周期的設(she)計(ji)和(he)失效判據的(de)確定(ding)。圖(tu)1 為(wei)元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗原理(li)框圖(tu)。
 
 三．元(yuan)器件(jian)使用過程(cheng)的可(ke)靠(kao)性(xing)試驗 1．可(ke)靠(kao)性(xing)篩選(xuan)試驗元(yuan)器件(jian)在設(she)計(ji)完成(cheng)後(hou)，其設計(ji)可(ke)靠(kao)性(xing)水(shui)平已(yi)經(jing)基本(ben)確定(ding)。但(dan)在(zai)產(chan)品(pin)的制造(zao)過(guo)程中，由(you)於(yu)人為(wei)的(de)因素或(huo)原材料(liao)、工(gong)藝條件(jian)、設備(bei)條件(jian)的波(bo)動(dong)，*終導(dao)致(zhi)制造(zao)的(de)產品(pin)不可(ke)能全(quan)部達到(dao)設計(ji)的可(ke)靠(kao)性(xing)水(shui)平。在(zai)壹(yi)批產(chan)品(pin)中總(zong)是(shi)有(you)壹(yi)部分(fen)產(chan)品(pin)存在各(ge)種(zhong)潛(qian)在(zai)的缺(que)陷，致(zhi)使其壽命(ming)遠遠低於(yu)其平均(jun)壽(shou)命(ming)，這就(jiu)是(shi)早期失效產品。在(zai)實際使用過程(cheng)中，早期失效對產品(pin)的(de)危(wei)害是(shi)相(xiang)當(dang)嚴(yan)重的(de)。不僅給用戶帶(dai)來(lai)經(jing)濟損失，更(geng)為(wei)嚴(yan)重的(de)是(shi)給(gei)生(sheng)產(chan)企(qi)業(ye)帶(dai)來(lai)的信譽損失(shi)。為(wei)了(le)剔除(chu)這些(xie)早期失效產品，往往要(yao)進(jin)行元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)性(xing)篩選(xuan)試驗。可(ke)靠(kao)性(xing)篩選(xuan)試驗的目(mu)的在於(yu)提高(gao)元(yuan)器件(jian)批可(ke)靠(kao)性(xing)水(shui)平。篩(shai)選(xuan)是(shi)壹(yi)種(zhong)****的(de)檢驗(yan)程序，在篩(shai)選(xuan)前元(yuan)器件(jian)的參(can)數、性(xing)能均(jun)檢驗(yan)合格，只(zhi)有(you)對產(chan)品施加(jia)各(ge)種(zhong)應力後(hou)或(huo)采(cai)用特(te)殊(shu)的檢查(zha)手段(duan)，才能發(fa)現(xian)有(you)隱(yin)患(huan)的(de)早期失效產品。理(li)想(xiang)的(de)篩(shai)選(xuan)應力及其條件(jian)應是(shi)使篩(shai)選後(hou)的批產(chan)品(pin)的失(shi)效率達到(dao)偶然失(shi)效期的失(shi)效率，實際工(gong)作(zuo)中，為(wei)有(you)效地進行篩選，就(jiu)得科(ke)學地確定(ding)篩(shai)選項目、篩選應力、篩選(xuan)試驗時(shi)間(jian)及容易變化的參(can)數(shu)，並制定(ding)出(chu)恰當的失效標(biao)準(zhun)。有(you)效的篩選(xuan)可(ke)以(yi)使元(yuan)器件(jian)的使用失效率下(xia)降(jiang)壹(yi)個數量級(ji)，嚴(yan)格的(de)篩(shai)選有(you)可(ke)能下(xia)降(jiang)兩(liang)個數(shu)量級(ji)。元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)篩選(xuan)的方法有很(hen)多(duo)，篩選(xuan)應力也可(ke)以(yi)有很(hen)多(duo)種(zhong)，篩(shai)選(xuan)效果與(yu)篩(shai)選(xuan)條件(jian)關系(xi)非常(chang)密(mi)切(qie)。對(dui)於(yu)電子(zi)產品(pin)生(sheng)產廠家(jia)來(lai)說，選擇(ze)合適(shi)的篩選條件(jian)和(he)方法是(shi)十(shi)分(fen)重要(yao)的(de)，在(zai)元(yuan)器件(jian)應用階段(duan)經(jing)常(chang)采(cai)用高(gao)溫儲存、功(gong)率老化、溫度(du)循(xun)環(huan)和(he)熱(re)沖(chong)擊篩(shai)選等(deng)四(si)種(zhong)篩(shai)選(xuan)方法。高(gao)溫儲存篩選(xuan)是(shi)利(li)用元(yuan)器件(jian)的失(shi)效大多(duo)數是(shi)由(you)於(yu)體內和(he)表面的各(ge)種(zhong)物理(li)、化學變化所引(yin)起(qi)，和(he)溫度(du)有(you)密(mi)切(qie)關(guan)系(xi)。溫度(du)升(sheng)高(gao)後(hou)，化學反應速率大大(da)加(jia)快(kuai)，失(shi)效過程得到(dao)加(jia)速，使有(you)缺陷的(de)元(yuan)器件(jian)能及時(shi)暴露(lu)，加(jia)以(yi)剔除(chu)。它的優(you)點(dian)是(shi)操(cao)作(zuo)簡(jian)便，效果明(ming)顯，費用較少，可(ke)以(yi)實現很(hen)多(duo)種(zhong)類的器件(jian)的篩(shai)選，可(ke)批量進(jin)行。因此在電子產(chan)品(pin)生(sheng)產廠(chang)家(jia)在(zai)關(guan)鍵元(yuan)器件(jian)的篩(shai)選中應用廣(guang)泛。功(gong)率老化篩選(xuan)又(you)稱為(wei)電(dian)老化或(huo)電老(lao)煉，就(jiu)是(shi)在(zai)熱(re)電(dian)應力的共(gong)同(tong)作(zuo)用下(xia)，暴(bao)露(lu)元(yuan)器件(jian)表面(mian)和(he)體內的(de)潛(qian)在(zai)缺陷。是(shi)電(dian)子(zi)產(chan)品生產廠家(jia)對(dui)關(guan)鍵元(yuan)器件(jian)進行篩選經(jing)常(chang)采(cai)用的方法。
 
由於(yu)功(gong)率老化需要(yao)專(zhuan)門(men)的試驗設備(bei)，費(fei)用較高(gao)，並且(qie)針對不同(tong)器件(jian)及要(yao)求(qiu)，需要(yao)選(xuan)擇(ze)不同(tong)的(de)篩(shai)選(xuan)條件(jian)和(he)篩選時(shi)間(jian)，比較(jiao)煩(fan)瑣(suo)。電(dian)子產品(pin)在使用過程(cheng)中會遇到(dao)不同(tong)的(de)溫(wen)度(du)條件(jian)，由於(yu)熱(re)脹冷縮(suo)的應力會是(shi)內(nei)部熱(re)匹配(pei)性(xing)能不(bu)好(hao)的(de)元(yuan)器件(jian)失效。溫度(du)循(xun)環(huan)和(he)熱(re)沖(chong)擊篩(shai)選是(shi)利(li)用了(le)極端(duan)高(gao)溫和(he)極端(duan)低溫(wen)間(jian)的熱(re)脹冷縮(suo)應力，剔除(chu)有熱(re)性(xing)能缺(que)陷的(de)元(yuan)器件(jian)。

 2．例(li)行可(ke)靠(kao)性(xing)試驗在實際生(sheng)產(chan)過程中，元(yuan)器件(jian)的例(li)行試驗是(shi)對(dui)產(chan)品(pin)實行質(zhi)量控(kong)制的(de)主(zhu)要(yao)措施之壹(yi)。生產中使用的電(dian)子元(yuan)器件(jian)，究(jiu)竟(jing)可(ke)靠(kao)性(xing)如(ru)何(he)，還(hai)需要(yao)定(ding)期地從(cong)批產(chan)品(pin)中抽(chou)取壹(yi)定(ding)數(shu)量的(de)樣(yang)品，通(tong)過有關試驗進行質(zhi)量考(kao)核(he)，這(zhe)就(jiu)是(shi)例(li)行試驗。實際上(shang)，電(dian)子產品(pin)生產(chan)廠(chang)家(jia)對(dui)進(jin)廠(chang)的元(yuan)器件(jian)進行的檢驗(yan)就(jiu)是(shi)壹(yi)種(zhong)例(li)行試驗。通過(guo)例(li)行試驗可(ke)以(yi)了(le)解進廠元(yuan)器件(jian)的穩定(ding)性(xing)，確保(bao)進(jin)入生(sheng)產車間(jian)的元(yuan)器件(jian)都是(shi)能滿足產(chan)品可(ke)靠(kao)性(xing)要(yao)求(qiu)的(de)。例(li)行試驗以抽(chou)樣的方式進(jin)行，抽取的樣(yang)品(pin)必(bi)須(xu)有代表(biao)性(xing)。它包括壹(yi)系列(lie)的(de)環(huan)境(jing)試驗和(he)壽命(ming)試驗項目(mu)，個別特(te)殊(shu)用途(tu)的器件(jian)還包括某(mou)些(xie)特(te)殊(shu)的試驗項目(mu)。例(li)行試驗必(bi)須(xu)對所有的(de)特(te)性(xing)參數(shu)進行**測(ce)試並保存原始(shi)記(ji)錄，同(tong)時(shi)還要(yao)分(fen)析(xi)參(can)數(shu)的偏差，以(yi)及暴露與各(ge)種(zhong)測(ce)試條件(jian)下(xia)的(de)變(bian)化，從(cong)而對(dui)生(sheng)產過(guo)程(cheng)中的(de)電(dian)子(zi)元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)性(xing)進行監(jian)控。
  3.元(yuan)器件(jian)的加(jia)速壽命(ming)試驗元(yuan)器件(jian)的使用壽命(ming)決定(ding)著電子(zi)產品的(de)使用壽命(ming)。在電(dian)子(zi)產(chan)品的設(she)計(ji)和(he)生產過程中，需要(yao)對(dui)電(dian)子產品(pin)使用壽命(ming)做出(chu)綜(zong)合評價(jia)，也就(jiu)要(yao)求(qiu)利(li)用元(yuan)器件(jian)的壽(shou)命(ming)試驗對所(suo)使用的元(yuan)器件(jian)的壽(shou)命(ming)做出(chu)評價(jia)。元(yuan)器件(jian)的壽(shou)命(ming)試驗是(shi)評價(jia)和(he)分(fen)析(xi)元(yuan)器件(jian)壽命(ming)特(te)征(zheng)的試驗，模擬(ni)實際工(gong)作(zuo)狀態或(huo)存儲狀態，投入(ru)壹(yi)定(ding)樣(yang)品進行試驗，試驗中記(ji)錄樣(yang)品失(shi)效的時(shi)間(jian)，並對這些(xie)失(shi)效時(shi)間(jian)進行統(tong)計(ji)和(he)分(fen)析(xi)，評估(gu)元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)度(du)、失(shi)效率以及平均(jun)壽(shou)命(ming)等可(ke)靠(kao)性(xing)數量特(te)征(zheng)。但(dan)是(shi)在(zai)正(zheng)常(chang)使用的應力下(xia)做(zuo)長(chang)期的壽(shou)命(ming)試驗太耗(hao)費(fei)人力、物力和(he)時(shi)間(jian)了(le)，壹(yi)般均采(cai)用加(jia)速壽命(ming)試驗。加(jia)速壽命(ming)試驗就(jiu)是(shi)用大應力的方法促(cu)使樣(yang)品在(zai)短時(shi)期內失(shi)效，從(cong)而預(yu)測(ce)元(yuan)器件(jian)正(zheng)常(chang)儲存條件(jian)或(huo)工作(zuo)條件(jian)下(xia)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)，其基本(ben)原(yuan)理是(shi)把(ba)工(gong)作(zuo)環境裏(li)的規(gui)定(ding)應力作為(wei)參(can)數來(lai)觀(guan)察失(shi)效和(he)預計(ji)實際工(gong)作(zuo)狀態下(xia)的(de)失(shi)效率。由於(yu)元(yuan)器件(jian)的失(shi)效是(shi)因物理(li)和(he)化學反應所致(zhi)，所(suo)以(yi)應力因子的大小(xiao)決(jue)定(ding)失(shi)效的反應速度(du)。加(jia)速壽命(ming)試驗常(chang)用與電(dian)子產(chan)品的設計(ji)和(he)評定(ding)階(jie)段，作為(wei)確定(ding)產(chan)品重要(yao)的(de)工(gong)作指標(biao)和(he)壽命(ming)指標(biao)的(de)手段(duan)。
 4．現(xian)場可(ke)靠(kao)性(xing)試驗在實驗室(shi)條件(jian)下(xia)進(jin)行的元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗必(bi)然與(yu)真實環境(jing)下(xia)的(de)試驗有壹(yi)定(ding)差距(ju)。現場可(ke)靠(kao)性(xing)試驗，即在(zai)使用現場(chang)進行的可(ke)靠(kao)性(xing)試驗，可(ke)以(yi)真實地反映(ying)出產(chan)品(pin)的實際使用條件(jian)下(xia)的(de)元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)性(xing)水(shui)平。在(zai)實際使用中，幾(ji)種(zhong)環(huan)境(jing)應力同(tong)時(shi)作用，對電(dian)子產(chan)品所帶(dai)來(lai)的影(ying)響是(shi)復(fu)雜(za)的(de)，比較(jiao)**的(de)，不是(shi)實驗室(shi)試驗所能達(da)到(dao)的。元(yuan)器件(jian)的現(xian)場可(ke)靠(kao)性(xing)試驗就(jiu)是(shi)在(zai)使用現場(chang)收(shou)集設(she)備(bei)上(shang)所(suo)用元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)性(xing)數據(ju)，進行元(yuan)器件(jian)工作(zuo)可(ke)靠(kao)性(xing)統(tong)計(ji)評估(gu)，將元(yuan)器件(jian)在實際使用條件(jian)下(xia)的(de)失(shi)效率指標(biao)與(yu)實驗室(shi)內(nei)規定(ding)條件(jian)下(xia)獲得的(de)失效率指標(biao)進(jin)行比較(jiao)，為(wei)對(dui)元(yuan)器件(jian)提出(chu)合理(li)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)指標(biao)要(yao)求(qiu)提(ti)供依據(ju)。現(xian)場可(ke)靠(kao)性(xing)試驗中的(de)工(gong)作(zuo)和(he)環境試驗條件(jian)，復雜(za)並且(qie)不受(shou)控制，因此，在可(ke)靠(kao)性(xing)試驗方案中應該合理(li)地和(he)適(shi)當地規定(ding)所(suo)有工作和(he)環境因素嚴(yan)酷(ku)度(du)的(de)極限(xian)。
 在(zai)試驗過程(cheng)中，應連續(xu)檢測(ce)工(gong)作(zuo)和(he)環境試驗條件(jian)，當試驗條件(jian)超(chao)出規定(ding)範(fan)圍(wei)時(shi)，應中斷(duan)試驗。由於(yu)試驗結(jie)果是(shi)從(cong)現場(chang)得來(lai)的，應在現(xian)場(chang)進行必(bi)要(yao)的(de)實際分(fen)析(xi)，離(li)開(kai)現場(chang)後(hou)，對現(xian)場(chang)報(bao)告中的(de)失(shi)效分(fen)析(xi)與(yu)判斷(duan)也(ye)應進行必(bi)要(yao)的(de)再(zai)分(fen)析(xi)與(yu)再(zai)判斷(duan)，以(yi)保證這些(xie)報(bao)告(gao)的(de)可(ke)信性(xing)和(he)完整(zheng)性(xing)。
 5．失效分(fen)析(xi)試驗元(yuan)器件(jian)的失(shi)效分(fen)析(xi)試驗是(shi)在(zai)元(yuan)器件(jian)失效後(hou)，進行的尋找其失效機理的(de)試驗，其目的(de)是(shi)為(wei)了(le)確定(ding)失(shi)效是(shi)由(you)使用不當(dang)造成(cheng)的還是(shi)由(you)元(yuan)器件(jian)固有(you)缺陷引(yin)起(qi)的。失(shi)效分(fen)析(xi)試驗從(cong)電子(zi)產(chan)品原(yuan)理(li)的(de)角(jiao)度(du)，對(dui)故障產(chan)品進(jin)行測(ce)試、試驗、觀(guan)察分(fen)析(xi)，以(yi)確定(ding)故障部位。必(bi)要(yao)時(shi)，分(fen)解產品，進行理化分(fen)析(xi)，應力強度(du)分(fen)析(xi)，判斷(duan)故障的(de)性(xing)質(zhi)，弄清故障產(chan)生的(de)機理。同(tong)時(shi)應進行數據統(tong)計(ji)，就(jiu)是(shi)收(shou)集同(tong)類產品(pin)生產(chan)數(shu)量、試驗、使用時(shi)間(jian)、以產生的(de)故障數(shu)，估算(suan)該類故障出(chu)現的(de)頻率。通過(guo)故障分(fen)析(xi)查(zha)明(ming)故障原(yuan)因和(he)責(ze)任，若是(shi)元(yuan)器件(jian)使用不當(dang)造成(cheng)，應改(gai)進設(she)計(ji)和(he)制造(zao)工(gong)藝，若是(shi)元(yuan)器件(jian)固有(you)缺陷引(yin)起(qi)的，還(hai)要(yao)確定(ding)該種(zhong)缺(que)陷是(shi)偶(ou)然的(de)還是(shi)批次(ci)性(xing)的，然後(hou)才能依(yi)據(ju)結(jie)論采(cai)取相應的糾(jiu)正(zheng)措施。例(li)如(ru)；某電子(zi)產品(pin)出現(xian)故障，根(gen)據(ju)現(xian)象判斷(duan)兩(liang)只電(dian)容漏電(dian)流(liu)太大(da)，更(geng)換，故障排除(chu)。進(jin)行元(yuan)器件(jian)失效分(fen)析(xi)試驗，兩(liang)只電(dian)容耐(nai)壓(ya)、漏電(dian)流(liu)、容量等(deng)指(zhi)標(biao)均(jun)正(zheng)常(chang)，說明(ming)維修未解決根(gen)本(ben)問題(ti)，該電(dian)子(zi)產品(pin)仍存在著隱(yin)患(huan)，應跟蹤(zong)處理(li)。
 
 四(si)．元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗的管(guan)理
 1．試驗期間(jian)的技術(shu)管理(li)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗作為(wei)壹(yi)種(zhong)生(sheng)產(chan)保(bao)障(zhang)措施，需要(yao)有(you)壹(yi)定(ding)的(de)設備(bei)支持(chi)。絕(jue)大(da)部分(fen)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗都需要(yao)專(zhuan)用設備(bei)。並(bing)且(qie)設備(bei)需要(yao)有(you)資格的(de)專(zhuan)門機構(gou)對各(ge)項功(gong)能指(zhi)標(biao)進(jin)行鑒(jian)定(ding)，鑒(jian)定(ding)後(hou)貼合格證並註明(ming)有效期限。實驗設(she)備(bei)須(xu)有(you)專(zhuan)人維護保(bao)養，復(fu)雜(za)設備(bei)應設專(zhuan)人操作(zuo)，經(jing)嚴格培(pei)訓(xun)並發(fa)操(cao)作(zuo)證。為(wei)達(da)到(dao)試驗的理(li)想效果，技(ji)術(shu)人員必(bi)須(xu)對試驗技術(shu)和(he)試驗條件(jian)進行研究(jiu)改(gai)進。壹(yi)般民用設備(bei)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)要(yao)求(qiu)不(bu)是(shi)很(hen)高(gao)的情況(kuang)下(xia)，生(sheng)產(chan)廠(chang)家(jia)應根(gen)據(ju)實際情況(kuang)，盡量通(tong)過(guo)投資較(jiao)少，周期短，步(bu)驟比較(jiao)簡(jian)單的試驗，使產(chan)品達(da)到(dao)用戶滿意的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)水(shui)平，以(yi)降(jiang)低生(sheng)產成(cheng)本(ben)。
 2．試驗報告(gao)的閉環管(guan)理可(ke)靠(kao)性(xing)試驗是(shi)通(tong)過(guo)試驗來(lai)研究(jiu)可(ke)靠(kao)性(xing)，試驗現場(chang)往往無(wu)法根(gen)據(ju)壹(yi)次試驗結(jie)果判斷(duan)其元(yuan)器件(jian)的可(ke)靠(kao)性(xing)，因此必(bi)須(xu)把試驗內容(rong)全(quan)部如(ru)實記(ji)錄下(xia)來(lai)，然後(hou)進行可(ke)靠(kao)性(xing)分(fen)析(xi)，即(ji)撰(zhuan)寫可(ke)靠(kao)性(xing)試驗報告(gao)。可(ke)靠(kao)性(xing)試驗報告(gao)是(shi)試驗的總(zong)結(jie)性(xing)報告(gao)，應包括主(zhu)要(yao)的(de)試驗情況(kuang)、技術(shu)數據(ju)、試驗結(jie)論、提高(gao)設備(bei)可(ke)靠(kao)性(xing)的技(ji)術(shu)措施（包括技(ji)術(shu)與管(guan)理措施）等。元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗的試驗者應該真實、**地記(ji)錄試驗數據(ju)，並在試驗完成(cheng)後(hou)，撰(zhuan)寫試驗報告(gao)。試驗報告(gao)應交技(ji)術(shu)人員，技(ji)術(shu)人員根(gen)據(ju)試驗數據(ju)和(he)試驗效果對(dui)試驗技術(shu)和(he)試驗條件(jian)進行修正(zheng)或(huo)改(gai)進，以(yi)達(da)到(dao)理想(xiang)的實驗效果。壹(yi)份完整(zheng)的(de)元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)試驗報告(gao)應歸(gui)檔(dang)保存，必(bi)要(yao)時(shi)可(ke)進(jin)行比對(dui)試驗或(huo)驗證試驗，確保(bao)試驗的有(you)效性(xing)和(he)復現性(xing)。
 
 五．結(jie)束(shu)語(yu)元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)的試驗方法很(hen)多(duo)，電子(zi)產品生產廠家(jia)必(bi)須(xu)根(gen)據(ju)自(zi)己(ji)產(chan)品(pin)的(de)實際情況(kuang)，選擇(ze)或(huo)設計(ji)合適(shi)的試驗方案，保證元(yuan)器件(jian)的質(zhi)量與(yu)可(ke)靠(kao)性(xing)。通過(guo)開(kai)展元(yuan)器件(jian)使用過程(cheng)的可(ke)靠(kao)性(xing)試驗，電子(zi)產品生(sheng)產廠家(jia)提(ti)高(gao)了(le)所選用的元(yuan)器件(jian)的質(zhi)量與(yu)可(ke)靠(kao)性(xing)，從(cong)而提(ti)高(gao)了(le)產品的(de)信譽度(du)和(he)美譽(yu)度(du)，有(you)利(li)於提高(gao)電子(zi)產品廠家(jia)生(sheng)產(chan)經(jing)營(ying)。
 
 ◆ 參考(kao)文獻：
 [1] 劉明(ming)治(zhi)，編著．可(ke)靠(kao)性(xing)試驗[M]．電子(zi)工業(ye)出(chu)版(ban)社(she),2004 年．
 [2] 孫青，莊奕(yi)琪，王(wang)錫吉，劉發(fa)，編(bian)著．電子(zi)元(yuan)器件(jian)可(ke)靠(kao)性(xing)工程(cheng)[M] ． 電子工業(ye)出(chu)版(ban)社(she), 2002．年．